本报北京1月1日电 我国自主研制的纳米测长仪和量块快速检测仪两项科技成果日前通过鉴定。这不仅表明我国微／纳米光电测控技术已处于世界领先水平，而且对解决目前制约我国高新技术和传统制造业发展以及新材料研制过程中的计量问题都具有一定意义。
这两项科技成果是由中国青旅实业发展有限公司所属标普纳米测控技术有限公司开发的。“纳米测长仪”是一种通用长度传感器，不仅分辨率高、达到1纳米，而且其重复性、准确度和短时稳定性等主要技术指标都达到了国际领先水平。“量块快速检测仪”是一种新型的量块检测仪器，它将直接测量与比较测量结合起来，还可与计算机连接通讯，实现数据自动处理，从而提高了量块检验速度，减轻了检测人员的劳动强度。
标普纳米测控技术有限公司是目前国内唯一专业从事微／纳米光电测控技术及相关产品开发与研制的企业，已开发出11大系列100多个型号的产品，除在国内销售外，还出口到美国、澳大利亚、日本、芬兰等工业发达国家。据了解，这家公司具有世界一流水平的纳米检测中心也正在建设之中。
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